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Analytik Jena B-100YP表面检查灯检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物、灰尘等
Analytik Jena B-100YP表面瑕疵检查灯可快速检查加工表面的瑕疵，灰尘，异物等小至10微米的瑕疵、小颗粒，高强度抗冲击外壳由有Cool-Touch阻热材料制造，可长时间工作不产生高温。
表面晶粒检查灯应用：LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查
主要特点
检查精密加工表面的瑕疵、污点、异物等
快速无损检测小至10微米的瑕疵、小颗粒
有效地探测出生产过程是早期的污物，节省生产时间及不必要的成本
100瓦高强度汞灯发出543,574及576nm波长光谱
黄色滤色片滤掉波长小于500nm的光线，防止产生荧光干扰
高对比度的光线能清晰检测到精细的表面粒子
B-100Y是铝合金外壳; B-100YP带塑料外壳
灯头人体工学设计，易于操作
Analytik Jena B-100Y和B-100YP
黄色滤光片能滤掉波长小于500nm的光线，产生543nm、574和576nm的光线。高对比度的光线可检测表面小于10微米的颗粒。b-100Y铝合金外壳，B-100YP带塑料外壳。
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